軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測

簡要描述：

廣電計(jì)量軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測是指借助各種測試分析技術(shù)和方法確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)失效根因，提出設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性的有效手段。

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更新日期：2025-07-23

價(jià)格：

詳細(xì)介紹

品牌	廣電計(jì)量	加工定制	是
服務(wù)區(qū)域	全國	服務(wù)周期	常規(guī)3-5天
服務(wù)類型	元器件篩選及失效分析	服務(wù)資質(zhì)	CMA/CNAS認(rèn)可
證書報(bào)告	中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告	增值服務(wù)	可加急檢測
是否可定制	是	是否有發(fā)票	是

軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測服務(wù)范圍

IGBT、IC集成電路、微機(jī)電器件

檢測標(biāo)準(zhǔn)

GJB548微電子器件試驗(yàn)方法和程序

檢測項(xiàng)目

（1）常見檢測項(xiàng)?：3DX 射線檢查、聲學(xué)掃描檢查、開封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試

（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測服務(wù)背景

隨著動(dòng)車及高速列車電控性能的提升，其使用的電子元器件占比越來越高。一方面，為保證動(dòng)車及高速列車的運(yùn)行可靠性，需要對所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底，以熟悉產(chǎn)品性能及預(yù)期壽命。另一方面，列車運(yùn)行過程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效，將可造成災(zāi)難性的損失；而為滿足電子元器件高功率、高負(fù)載、高性能的要求，列車上多使用進(jìn)口集成電路芯片，因檢測手段匱乏、分析方法空白，其失效問題常常受制于國外供應(yīng)商。

我們的優(yōu)勢

廣電計(jì)量通過與華為、海思等國內(nèi)集成電路芯片廠的深度合作，不斷提高自身芯片類檢測硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力，同時(shí)可以將問題鎖定在具體芯片層或者um范圍內(nèi)。